走査電子顕微鏡（そうさてんしけんびきょう、Scanning Electron Microscope: SEM）は、試料の表面を高倍率・高分解能で観察するための顕微鏡です。光の代わりに電子ビームを使って、試料の表面構造や組成を詳細に分析できます。

🧪 基本的な仕組み

1. 電子ビームの照射
   　電子銃（エレクトロンガン）から発生した電子を細く絞り、試料に照射します。

2. 二次電子・反射電子の検出
   　試料に当たった電子によって放出される「二次電子」や「反射電子」などを検出して画像化します。

3. 画像の構成
   　スキャンされた領域の信号強度を画面にマッピングし、白黒の高解像度画像として表示されます。

🔍 観察できるもの

• 微細構造（数ナノメートル〜数ミクロン）

• 表面形状

• 材料の粒子、結晶構造

• 金属、半導体、バイオ試料など

🔧 特徴と利点

🖼️ SEM画像の例（希望あれば画像生成可能）

例えば金属表面の微細なひび割れ、生物の微細構造（昆虫の複眼など）などがSEMで鮮明に捉えられます。

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